電子(zi)天平(ping)作為壹(yi)種非常重要的(de)測(ce)量(liang)儀器,已(yi)經廣(guang)泛應(ying)用(yong)於(yu)生(sheng)產、科(ke)研(yan)、貿易(yi)等領域。但作為測量(liang)儀器,其(qi)檢定(ding)結(jie)果在(zai)使(shi)用(yong)壹(yi)段(duan)時(shi)間(jian)後(hou)可能(neng)會有所不(bu)同(tong),不僅(jin)妨(fang)礙(ai)正常工(gong)作,還會帶(dai)來(lai)不(bu)可預料(liao)的嚴(yan)重後果。因此,有必要(yao)進(jin)行定(ding)期驗證,並分(fen)析差(cha)異原(yuan)因。
電(dian)子(zi)天平(ping)定(ding)期驗證的必要(yao)性(xing)和所需(xu)驗(yan)證項目的分(fen)析:
1、存(cun)放(fang)時(shi)間(jian)
電(dian)子(zi)天平(ping)作為精密儀器,存(cun)放(fang)時(shi)需(xu)特別(bie)註(zhu)意。在(zai)電(dian)子(zi)天平(ping)的(de)保(bao)管(guan)上,為保(bao)證(zheng)電子(zi)天平(ping)的(de)檢定(ding)的(de)精(jing)密度(du),壹(yi)般都會存(cun)放(fang)在(zai)檢(jian)定(ding)室內。電子(zi)天平(ping)在(zai)使(shi)用(yong)後(hou),由於(yu)開(kai)箱(xiang)時(shi)間(jian)較短或(huo)檢定(ding)室內環境不適(shi)等(deng)等(deng)原因,均會導致(zhi)電子(zi)天平(ping)的(de)檢定(ding)結(jie)果出現(xian)差(cha)異。針(zhen)對(dui)電子(zi)天平(ping)因保(bao)存(cun)時(shi)間(jian)所(suo)產生(sheng)的差(cha)異,建(jian)議(yi)在(zai)電(dian)子(zi)天平(ping)檢(jian)定(ding)前至(zhi)少(shao)在(zai)檢(jian)定(ding)室內保(bao)存(cun)24小時(shi)以上,只(zhi)有達(da)到(dao)合(he)適(shi)的(de)保(bao)存(cun)時(shi)間(jian),電(dian)子(zi)天平(ping)內部(bu)的機械(xie)結(jie)構才(cai)會達(da)到(dao)真(zhen)正的(de)平(ping)衡(heng),再(zai)次(ci)使(shi)用(yong)時(shi)才(cai)會避(bi)免(mian)檢定(ding)結(jie)果差(cha)異的(de)出(chu)現(xian)。除(chu)此之(zhi)外(wai),對(dui)於(yu)檢(jian)定(ding)室的環境也要進(jin)行改善,要(yao)保(bao)證(zheng)檢定(ding)室內溫度與(yu)濕(shi)度(du)的(de)平(ping)衡(heng),使(shi)整(zheng)體環境達(da)到(dao)真(zhen)正的(de)平(ping)衡(heng)。
2、預熱時間(jian)
為保(bao)證(zheng)電子(zi)天平(ping)示值(zhi)的穩(wen)定(ding)性(xing),在(zai)電(dian)子(zi)天平(ping)進(jin)行檢定(ding)前都會對(dui)其進(jin)行預熱。雖然(ran)預熱只是(shi)使(shi)用(yong)過(guo)程(cheng)中壹(yi)道(dao)簡單的(de)程(cheng)序(xu),但這卻是檢(jian)定(ding)過(guo)程(cheng)中的關(guan)鍵壹(yi)步(bu)。預熱時間(jian)要(yao)考慮(lv)不同(tong)電子(zi)天平(ping)的(de)性(xing)能(neng),壹(yi)般在(zai)使(shi)用(yong)前至(zhi)少(shao)預熱半(ban)小時(shi)以上,但(dan)因廠(chang)家不(bu)同(tong),預熱時間(jian)也有所不(bu)同(tong)。除(chu)此之(zhi)外(wai),還要(yao)考慮(lv)電子(zi)天平(ping)的(de)檢定(ding)分(fen)度值(zhi)及(ji)檢(jian)定(ding)分(fen)度數,保(bao)證(zheng)預熱時間(jian),避(bi)免(mian)差(cha)異的(de)出(chu)現(xian)。
3、預壓(ya)
電(dian)子(zi)天平(ping)在(zai)出(chu)廠(chang)前雖然(ran)就其(qi)精(jing)密度(du)可以給予(yu)保(bao)證(zheng),但儀器如(ru)同(tong)人的(de)器(qi)官(guan)壹(yi)樣(yang),長時間(jian)不(bu)使(shi)用(yong)後(hou)可能(neng)會進(jin)入(ru)休眠狀(zhuang)態(tai)。因此,長時間(jian)閑置後,如(ru)不(bu)對(dui)電子(zi)天平(ping)進(jin)行預壓(ya),勢(shi)必會導致(zhi)檢定(ding)結(jie)果出現(xian)差(cha)異。針(zhen)對(dui)電子(zi)天平(ping)因預壓(ya)所(suo)產生(sheng)的差(cha)異,建(jian)議(yi)在(zai)電(dian)子(zi)天平(ping)使(shi)用(yong)前用砝(fa)碼多(duo)次(ci)進(jin)行加載(zai),減(jian)小電(dian)子(zi)天平(ping)的(de)進(jin)程(cheng)示值(zhi)與(yu)回程(cheng)示值(zhi)之間(jian)的(de)差(cha)距(ju),在(zai)進(jin)行加載(zai)時(shi),不過(guo)多(duo)考(kao)慮(lv)稱量(liang)結(jie)果和回零(ling)情況。只有保(bao)證(zheng)預壓(ya)效(xiao)果,才(cai)能(neng)使(shi)電(dian)子(zi)天平(ping)更(geng)快的(de)進(jin)入(ru)工(gong)作狀(zhuang)態(tai),從(cong)而(er)避(bi)免(mian)差(cha)異的(de)出(chu)現(xian)。
4、讀數時間(jian)
電(dian)子(zi)天平(ping)在(zai)檢(jian)定(ding)時(shi)示值(zhi)是否(fou)穩(wen)定(ding),壹(yi)般都會在(zai)顯(xian)示屏上作出指(zhi)示。
所(suo)出(chu)現(xian)的(de)反(fan)映(ying)即(ji)穩(wen)定(ding)指(zhi)示燈(deng)亮(liang)起或(huo)不穩(wen)定(ding)燈(deng)消失(shi)。電(dian)子(zi)天平(ping)從(cong)加載(zai)到(dao)穩(wen)定(ding)的(de)過(guo)程(cheng)實(shi)際(ji)也是壹(yi)個(ge)從(cong)振(zhen)蕩(dang)到平(ping)衡(heng)的(de)過(guo)程(cheng),當振蕩(dang)的(de)幅度逐漸(jian)減小至(zhi)消失(shi)時(shi),便達(da)到(dao)了預先(xian)設(she)定(ding)的(de)穩(wen)定(ding)範(fan)圍(wei),顯示屏上也會提示穩(wen)定(ding)的(de)信(xin)號。但實際(ji)中,真(zhen)正的(de)穩(wen)定(ding)還(hai)需(xu)要(yao)壹(yi)段(duan)時(shi)間(jian),這段(duan)時(shi)間(jian)的(de)長短不僅與(yu)原(yuan)先設計的穩(wen)定(ding)範(fan)圍(wei)有關(guan),還(hai)與(yu)天平(ping)的(de)檢定(ding)分(fen)度值(zhi)有關(guan)。假(jia)如在(zai)進(jin)行檢定(ding)時(shi),沒有等到(dao)電子(zi)天平(ping)真(zhen)正的(de)穩(wen)定(ding),所(suo)出(chu)現(xian)的(de)檢(jian)定(ding)結(jie)果必然(ran)會出現(xian)差(cha)異。針(zhen)對(dui)電子(zi)天平(ping)因讀數時間(jian)所(suo)產生(sheng)的差(cha)異,建(jian)議(yi)當電子(zi)天平(ping)顯(xian)示屏上出(chu)現(xian)穩(wen)定(ding)符號後,將時間(jian)進(jin)行順延。在(zai)進(jin)行讀數時,每(mei)次(ci)順延的時(shi)間(jian)要(yao)保(bao)持(chi)壹(yi)致(zhi)。讀數時間(jian)的(de)順延對(dui)於(yu)電(dian)子(zi)天平(ping)的(de)檢定(ding)至(zhi)關(guan)重(zhong)要,對(dui)於(yu)分(fen)度值(zhi)較小的(de)微量天平(ping)及(ji)超(chao)微量(liang)天平(ping)的(de)檢定(ding)則(ze)更(geng)為重要(yao),這其中壹(yi)絲誤差(cha)都(dou)可能(neng)釀成嚴(yan)重的後果。在(zai)實(shi)際(ji)操(cao)作中,當度值(zhi)大於(yu)或(huo)等於(yu)1mg時(shi),讀數時間(jian)順延3秒(miao)較為合(he)適(shi);當分(fen)度值(zhi)等於(yu)0.1mg時(shi),讀數時間(jian)順延5秒(miao)較為合(he)適(shi);而(er)對(dui)實際(ji)分(fen)度值(zhi)小於(yu)或(huo)等於(yu)0.01mg的(de)天平(ping),讀數時間(jian)順延10-30秒(miao)較為合(he)適(shi)。對(dui)於(yu)讀數時間(jian)的(de)掌握(wo)上(shang),要不斷進(jin)行時間(jian)操(cao)作,大限度的(de)避(bi)免(mian)誤差(cha)的(de)出(chu)現(xian)。
5、檢(jian)測(ce)人的(de)鑒(jian)別力
電(dian)子(zi)天平(ping)在(zai)進(jin)行檢定(ding)時(shi),檢(jian)定(ding)人需(xu)要(yao)嚴(yan)格按照(zhao)規程(cheng)進(jin)行檢定(ding)。電(dian)子(zi)儀器可以對(dui)生(sheng)產生(sheng)活帶(dai)來(lai)極大幫助(zhu),但這種幫助(zhu)是建(jian)立在(zai)檢(jian)測(ce)人員(yuan)檢(jian)定(ding)流(liu)程(cheng)的(de)熟練(lian)掌握(wo)之(zhi)上的,檢測(ce)人員(yuan)在(zai)檢(jian)定(ding)流(liu)程(cheng)中每(mei)壹(yi)處(chu)細(xi)節(jie)的(de)忽(hu)略(lve)都會導致(zhi)檢定(ding)結(jie)果出現(xian)差(cha)異。例(li)如(ru),檢測人員(yuan)應(ying)註(zhu)意天平(ping)的(de)測量載(zai)荷(he)所處(chu)位(wei)置的大允許(xu)誤差(cha),當大允許(xu)誤差(cha)為±1.5,實際(ji)標(biao)尺分(fen)度值(zhi)d以上時(shi),根(gen)據流(liu)程(cheng)規(gui)定(ding),應(ying)免(mian)除(chu)該載(zai)荷(he)時的鑒(jian)別力測(ce)試(shi)。壹(yi)般檢測(ce)人員(yuan)較易忽(hu)視(shi)此點(dian),從(cong)而導(dao)致(zhi)檢定(ding)結(jie)果出現(xian)差(cha)異。針(zhen)對(dui)電子(zi)天平(ping)因檢(jian)定(ding)人的(de)鑒(jian)別力所(suo)產生(sheng)的差(cha)異,建(jian)議(yi)檢(jian)定(ding)人要(yao)全(quan)面(mian)掌握(wo)檢(jian)定(ding)流(liu)程(cheng),在(zai)進(jin)行檢定(ding)時(shi),對(dui)任何細(xi)節(jie)都(dou)不(bu)容忽視(shi)。只有這樣,才(cai)能(neng)避(bi)免(mian)檢定(ding)結(jie)果出現(xian)差(cha)異。